EN 
FR
JA
ID
ES
AR
KO
RU
DE
CN
Semiconductor / IC
တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းမှ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းအထိ၊ NGI သည် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ခြင်း၏ လုပ်ငန်းကွင်းဆက်တစ်ခုလုံးကို အကျုံးဝင်သည်။ အထူးသဖြင့်၊ NGI သည် semiconductor ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့်စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် အမျိုးသားအဆင့်မြင့်သော ဒစ်ဂျစ်တယ်အရင်းအမြစ်မီတာများ၏ ပထမဆုံးအစုကို တီထွင်ခဲ့သည်။
| လျှောက်လွှာအခြေအနေ | DUT | စမ်းသပ်မှု ကန့်သတ်ချက် | စမ်းသပ်ခြင်း Item | ထုတ်ကုန်အကြံပြုပါသည် |
| Semiconductor တပ်ဆင်မှု ပစ္စည်းဥစ္စာကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း။ စွမ်းအင်ထိရောက်မှုနှင့် အလင်းရောင် passive အစိတ်အပိုင်း Nanomaterial နှင့် စက် စသည်တို့ကို | IC ချစ်ပ် (RF CPU AFE MCU ADC BMIC) Diode MOS ပြွန် Photoelectric အာရုံခံ LED/AMOLED Photovoltaic / ဆိုလာဆဲလ် စသည်တို့ကို | ခုခံအားခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း။ ခန်းမဝိသေသလက္ခဏာများခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာ Wafer ဖြာ စသည်တို့ကို | Over- လက်ရှိ စွမ်းရည်စမ်းသပ်မှု ယိုစိမ့်စမ်းသပ်မှု အိုမင်းခြင်းစမ်းသပ်မှု ခွဲခြမ်းစမ်းသပ် စသည်တို့ကို | N2600 N9244 N23010 N23020 စသည်တို့ကို |
